利用扫描电子显微镜(SEM)对样品进行元素分析是材料科学中的一个普遍现象。扫描电子显微镜(SEM)不仅通过表面图像提供拓扑信息,而且还提供成分信息。在大多数情况下,显微镜会使德赢vwin安卓下载用能量色散X射线光谱仪(EDS)来分析通过显微镜电子束产生的样品辐射。

This webinar discusses a complementary method: The use of a separate X-ray source equipped with polycapillary optics attached to the SEM to excite the sample and to evaluate the fluorescence radiation produced. This is known as micro-X-ray fluorescence spectrometry, or micro-XRF for short. Bruker’s Micro-XRF for SEM uses the EDS’ silicon drift detector and signal processing chain to form a complete micro-XRF spectrometer.

尽管这种方法已经被人们熟知了很多年,但它与扫描电镜结合使用并不常见,尽管它有一系列的优点。我们的专家将向EDS解释这个强大的附录,它允许用户

  • the light-element sensitivity of EDS with trace element analysis in the mid to heavy element range by micro-XRF to improve the accuracy of quantification, and
  • EDS的表面灵敏度与微XRF的体积分析能力。

对这项技术的讨论将由一些应用实例的介绍来补充。参与者将有机会在网络研讨会结束时参加问答环节。

我为什么要参加?

  • 了解这种分析技术的最新发展
  • 了解更多关于micro-XRF如何extend the analytical capabilities of an SEM
  • Expand your knowledge in element analysis
  • 与专家讨论您自己的应用程序

当您注册参加本次网络研讨会时,您的注册详细信息将传递给主办方,主办方将为您提供与本主题相关的信息。

已经是Materials Today会员了吗?

Log in to your Materials Today account to access this webinar.