填补空白-打开大体积三维电子显微镜

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具有扫描电子显微镜(FIB / SEM)的聚焦离子束的组合使得能够在3D中的表面和下方访问微结构信息。需要越来越多,用于在3D中的较大粒材和金属的成像和分析以及加工较大的数据,以获得更好的统计学精度。直到最近,可用技术限制了可以在高分辨率下分析的材料的卷和深度,最终限制了对结构,结晶和化学性质的洞察力。这已不再是这种情况。XE等离子FIB / SEM技术的引入提供了无与伦比的地面访问表面与统计相关数据分析的串行段断层扫描的感兴趣区域。这也意味着可以详细地研究由X射线CT鉴定的大量感兴趣。

与传统方法相比,XE等离子FIB / SEM技术能够显着提高材料去除率 - 同时保持卓越的表面质量和高对比度,超高分辨率成像性能。我们将讨论XE等离子FIB技术如何开启新的研究应用,例如大颗粒多晶金属样品的可视化和分析,同时维持纳米级分辨率以进一步研究这些材料的晶界。

除了超高分辨率功能外,网络研讨会还将检查XE等离子FIB技术的更广泛电位,以各种表征技术,如进行3D断层扫描,3D EBSD,3D EDX,以及相关性断层扫描。

我为什么要参加网络研讨会?

  • 从专家演讲者那里了解大容量连续切片如何帮助弥合当前多尺度材料表征的空白
  • 探索快速创建大体积三维材质重建的解决方案
  • 了解有关使用XE等离子FIB技术了解材料科学新研究应用的更多信息德赢vwin安卓下载
  • 与专家讨论您的大型批量资料特征应用
  • 了解PFIB如何将X射线CT和电子成像连接起来,以覆盖多个长度范围

扬声器

布兰登·瓦莱尔,产品营销工程师SEM / Dualbeam,Fei Company
Philip J. Withers教授,曼彻斯特大学材料科学教授德赢vwin安卓下载
Baptiste Gault博士(主持人),材德赢vwin安卓下载料科学出版商

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