10 ^ 6和超越:新的研究申请材料科学德赢vwin安卓下载

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用扫描电子显微镜的DualBeam FIB / SEM中,综合聚焦离子束通常用于表征在微米和纳米级的结构信息。氙等离子体FIB /中小企业已使研究人员能够访问更大的材料和金属体积大的晶粒结构,以提高2D和3D分析统计的准确性,因为他们的大吞吐能力。与传统方法相比氙等离子体FIB / SEM技术使显着提高材料切除率 - 同时保持了卓越的表面质量和高对比度,超高分辨率的成像性能。

新策略正在开发以产生样品的位点特异性3D-EBSD分析,动态机械测试和镓自由薄切片为S / TEM分析的样品的制造中,使用原位操纵器结合血浆FIB的大吞吐量能力。我们将讨论如何氙等离子体FIB技术打开大门,新的研究应用,如机械应力后的可视化和分析多晶金属样品。

除了超高分辨率功能,研讨会将就氙等离子体FIB技术进行各种表征技术,如样品制备用于机械测试,TEM分析和现场特定的3D-EBSD及3D-EDS更广泛的潜力。

  • 从专家的扬声器收听大量串行切片如何帮助弥合多尺度材料表征目前的差距。
  • 用于快速创建大量的3D素材重建探索解决方案。
  • 了解更多关于使用氙等离子体FIB?新技术应用的研究材料科学。德赢vwin安卓下载
  • 讨论与专家的大量材料表征应用。

演讲嘉宾:

汤姆Nuhfer,电子显微镜和材料表征,材料科学与工程学院,卡内基 - 梅隆大学的董事。德赢vwin安卓下载

布兰登·范里尔,业务开发和产品营销工程师,FEI。

乔·德安杰洛,(主持人),材料科学出版社德赢vwin安卓下载,爱思唯尔。

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